Die folgende Auswahl von Seminarthemen vermittelt einen Überblick über das breite Spektrum der Veranstaltungen:
2011:
- Berechnung der Messunsicherheit –Empfehlungen für die Praxis
- EUV Metrology – Messmöglichkeiten der Metrology Light Source der PTB
- Korrekturverfahren für dimensionale Messungen an Mikrosystemkomponenten aus transparenten oder nachgiebigen Materialien
- Seminar Leistungsmesstechnik
- Protection of Measurement Data in Legal Metrology and Related Problems
2010:
- Emerging Topics in Mathematics for Metrology
- Aktuelle Fortschritte von Kalibrierverfahren im Nieder- und Hochfrequenzbereich 2010
- 3D micro- and nanometrology: Requirements and current developments
- Desertec – Herausforderung für Metrologie und technische Zusammenarbeit
2009:
- Revisionssicheres System zur Aufzeichnung von Kassenvorgängen und Messinformationen
- Nanopartikel-Charakterisierung: Anforderungen, Methoden und Bedarf an messtechnischer Rückführung?
- Current challenges in the Metrology of Ionizing Radiation in sub-micrometer dimensions
- Microflow Metrology
- Neue Trends in der optischen Ebenheitsmesstechnik
- Kommunikative Zähler
2008:
- 50 Jahre Geschwindigkeitsüberwachungsgeräte mit Zulassung der PTB
- Anwendung der MID bei Herstellern
- Klinische Basisdosimetrie nach DIN 6800/2
- Mehrwert-Zertifizierungsdienstleistungen für moderne Elektrizitätszähler
- Aktuelle Kalibrierverfahren im Nieder- und Hochfrequenzbereich
2007:
- Getriebemesstechnik in der Fertigung
- Geometriebestimmung mit industrieller Computertomographie
- Kalibrierverfahren im Nieder- und Hochfrequenzbereich
- Physik und Metrologie bei tiefen Temperaturen
- Strahlenschutzdosimetrie in gepulsten Photonen-Strahlungsfeldern
- Zukunft der Metrologie strömender Medien
- IT-related Challenges in Legal Metrology
- Analysis of Dynamic Measurements
2006:
- High-field Imaging and Spectroscopy
- Herstellung und Charakterisierung von magnetischen Nano-Strukturen und Teilchen
- Alanine Dosimetry for Clinical Applications
- SEM Based Dimensional Metrology
- Traceability in Large Scale Metrology
- Erdgasanalyse mit Gaschromatographie
2005:
- Methods for new Determination of the Boltzmann Constant
- High Temperature fixed-points for industrial and scientific applications
- 2. Photometrie-Seminar
- Neue Kalibrierverfahren im Nieder- und Hochfrequenzbereich
- Precision Density Measurements of Solids and Liquids
- Inline Messtechnik
2004:
- Metrologie mit Synchrotronstrahlung an der Metrology Light Source
- Magnetische Speichermedien der Zukunft; Herstellung, Charakterisierung und Funktion
- Hochleistungslaser
- Surface Roughness
- Quantitative Röntgenmikroskopie
- Accurate Gear Metrology - Necessity and Benefit for Industry
2003:
- Das "Virtuelle" KMG im Industrieeinsatz
- Spurenfeuchtemessung in Gasen
- 100 Jahre Bauartzulassung von Elektrizitätszählern - 100 Jahre Fortschritt in der Energiemesstechnik
2002:
- Messtechnische Kontrollen von Therapiedosimetern
- Magnetische Dünnschichtmedien, DVD, Halbleiterspeicher, ... was kommt danach?
- Was bedeuten die Dosismessgrößen der neuen Strahlenschutzverordnung für die Messtechnik ?
- Tieftemperaturphysik unterhalb 1K
- Data analysis of Keycomparison
- Dimensional Metrology - A Basic Technology for Production Processes
2001:
- Selbstorganisierte Halbleiter-Nanostrukturen, Grundlagen und Anwendungen
- Technologien für die Datenspeicher der Zukunft II
- Requirements and recent developments in highprecision length metrology
- Unsicherheitsberechnung unter Anwendung von Monte-Carlo-Methoden
- Detektorgestützte Radiometrie optischer Strahlung
- Messtechnische Kontrolle an Augentonometern
- Offene Labordatenkommunikation mit dem DIN-Messbus - DIN 12900-4
- 9. BAM/PTB-Kolloquium zur chemischen und Physikalischen Sicherheitstechnik
- Importance of a Traceable pH measurement in science and technology
- Dimensionelle Messtechnik für Mikrostrukturen
2000:
- Neue Technologien der Datenspeicherung
- Impedanzmessung (Kapazität, Induktivität, Wechselstromwiderstand, Reflexion, Streuparameter)
- Messung thermischer Energie für den industriellen Bereich
- Prüfung von Software in (mess-) technischen Systemen
