NanoScale 2023 findet vom 10. bis 12. Oktober 2023 in Helsinki statt
Nach 4-jähriger pandemie-bedingter Pause laden wir alle an (dimensioneller) Nano- und Mikrometrologie Interessierten zur NanoScale 2023 nach Helsinki (Finnland) sein. Schwerpunkte sind Rastersondenmikroskopie (SPM, v. a. AFM), optische Oberflächenmessverfahren (wie CLSM, CSI, FV etc.) und elektronenmikroskopische Techniken (SEM,TEM, TSEM). Unterstützt vom Helmholtz Fonds wird die Tagung von der PTB (Fachbereich 5.1) gemeinsam mit den Kolleginnen und Kollegen des VTT-Mikes und dem EURAMET TC Length organisiert und...

Mess- und Kalibrierergebnisse sind nur dann vollständig, wenn ihnen eine Messunsicherheit beigeordnet wird. Als wichtigste Grundlage dient der internationale Leitfaden GUM „Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement“ sowie seine Supplemente.

Das Seminar fördert die Anwendung des GUM. Die Teilnehmer gewinnen ein besseres Verständnis der Methoden und der Anwendbarkeit des GUM zur Berechnung der Messunsicherheit. MitarbeiterInnen von Kalibrier- und Prüflaboratorien, aber auch von Messgeräteherstellern, Eichbehörden und anderen Interessierten bietet sich ein Forum für Diskussionen und...